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基于DSP的PTCR多功能参数测试仪

Pressure-aging and Operating-time Comprehensive Instrument Based on DSP
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摘要 利用数字信号处理器控制外围接口电路,对多路热敏电阻测试电路执行依次通/断电操作,循环执行,以测试其老化性能,循环次数由用户设定。在每次测试第一次通电过程中,控制动作时间比较电路启动,同时数字信号处理芯片自动记录每一路的热敏电阻的动作时间数据,并进行处理。该系统可以同时测试30只热敏元件。 Using digital signal processor control peripheral equipment first, and then drive every positive temperature coefficient resistance testing circuit switch on and switch off in succession, After all the circuits finished a on/off action, the system circulated these operations untill the cycle times reach the initialization. In the first course of testing,the operating time of compare circuit is brought into play, synchronously, digital signal processor clock all the testing circuits' operating time and keep these data in corresponding locations. This system can tes 30 pieces of positive temperature coefficient resistance at a time.
出处 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2005年第6期688-690,共3页 Piezoelectrics & Acoustooptics
基金 国家"八六三"计划基金资助项目(2001AA325040)
关键词 热敏电阻 数字信号处理器 动作时间 老化 PTC resistance digital signal processor operating time aging
  • 相关文献

参考文献5

  • 1黎步银,时峰,周东祥,董浩斌,曾亦可.PTCR老化特性测试仪[J].工业仪表与自动化装置,2002(3):55-57. 被引量:3
  • 2张菲,龚树萍,黎步银,周东祥.PTCR综合时间测试仪的研制[J].电子元件与材料,2003,22(4):11-15. 被引量:2
  • 3康华光.电子技术基础(模拟部分)(第三版)[M].北京:高等教育出版社,1996..
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  • 5T6963C. Dot Matrix LCD LSI[Z]. TOSHIBA, 1998.

二级参考文献2

共引文献3

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