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摘要
KLA—TENCOR DesignScan设计检测方案面向光刻挑战;Cirrus Logic为CS4961XX系列添加图形编程工具。
出处
《电子设计应用》
2005年第12期143-144,共2页
Electronic Design & Application World
关键词
KLA—TENCOR公司
芯片
光刻制程工艺
参数化设计
在线检测
分类号
TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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1
KLA-Tencor推出最新光罩检测技术[J]
.电子与电脑,2008,8(5):80-80.
2
KLA-Tencor公司介绍[J]
.电子工业专用设备,2017,0(1):69-72.
3
KLA-Tencor公司收购了ICOS[J]
.激光与光电子学进展,2008,45(4):7-7.
4
KLA-Tencor新光罩检测技术可执行多缺陷检测[J]
.电子与电脑,2008,8(10):75-75.
5
KLA-TENCOR推出全新控片检测系统SURFSCAN SP2^(XP) 可加快4X nm以上的芯片生产和3X nm以下的芯片开发[J]
.电子工业专用设备,2008,37(9):75-75.
6
KLA-Tencor推出可解决二次成像挑战的首款计算光刻机[J]
.电子与电脑,2008,8(8):53-53.
7
KLA-Tencor将光刻覆盖控制扩展到65nm节点以下[J]
.电子工业专用设备,2005,34(8):68-69.
8
KLA-TENCOR推出用于测量等离子室效应的PLASMAVOLT X2[J]
.电子工业专用设备,2008,37(11):73-74.
9
KLA-TENCOR首推速度最快电子束检测系统[J]
.电子质量,2003(8):19-19.
10
KLA-Tencor全新掩膜检测系统问世TeraFab家族三款新品齐亮相[J]
.电子工业专用设备,2008,37(2):57-57.
电子设计应用
2005年 第12期
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