4200-SCS：脉冲式半导体器件特性测量方案

吉时利仪器在4200型半导体特性分析系统中新增加了脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲I-V）子系统，更便于进行高介电（High-k）材料、热敏感器件和先进存储芯片等的前沿技术研究。