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电子元器件的贮存可靠性及评价技术 被引量：3

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摘要 贮存可靠性是元器件可靠性研究的重要方面。阐述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析。
作者 杨丹 恩云飞 黄云
机构地区 信息产业部电子第五研究所可靠性研究分析中心
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第B12期71-74,共4页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 贮存可靠性 长期自然贮存 极限应力试验 加速贮存寿命试验
分类号 TB114.3 [理学—概率论与数理统计] TB24 [一般工业技术—工程设计测绘]
  • 相关文献

参考文献13

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二级参考文献1

  • 1苏德清.可靠性技术标准手册[M]中国标准出版社,1994.

共引文献9

同被引文献14

引证文献3

二级引证文献5

电子产品可靠性与环境试验
2005年 第B12期

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