国外电子元器件可靠性试验情报跟踪

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摘要跟踪研究了近年来国外在电子元器件可靠性试验方面的发展现状与趋势,主要包括集成电路新的试验方法;大规模集成电路测试方面存在的问题和未来的发展方向;裸芯片可靠性试验技术的发展;MEMS新技术的可靠性发展现状等。

作者蔡少英

机构地区信息产业部电子第五研究所赛宝信息研究中心

出处《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第B12期189-192,共4页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关键词电子元器件可靠性试验集成电路测试试验技术

参考文献2

1STARK B. MEMS reliability assarance guidelines for space applications [R] . America: JPL Publication, 1999.
2RAC. Microeletro mechanical systems (MEMS) [R]. America: RAC, 2001.

电子产品可靠性与环境试验

2005年第B12期

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