X射线荧光法快速测定硅铝合金中的硅含量被引量：5

The determination of Si in the Al-Si metal by XRFS

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摘要本文介绍采用X射线荧光法测定硅铝合金中硅含量的方法及相关条件,并对测量结果精度进行分析。本方法具有样品前期处理简便、干扰因素小,且快速、准确等特点。 In this paper, the concentration of Si in the aluminium-silicon is determined by XRFS （X-Ray Fluoresent Spectrum） .The method is simple,rapid,accurate and reproducible.

作者董彦辉李光平郑庆瑜

机构地区中国电子科技集团公司第四十六研究所

出处《现代仪器》 2005年第6期21-22,共2页 Modern Instruments

关键词 X射线荧光法硅铝合金硅 X fluorescent spectrometry Aluminium-silicon Silicon

分类号 S153.62 [农业科学—土壤学] P618.510.8 [天文地球—矿床学]

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