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一种新的光电式锥度检查仪的研制

The Development of a New Photoelectricity Taper Tester
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摘要 介绍了一种新研制的锥度检查仪,并就其测量不确定度进行了评定。 In this paper, we introduce the analysis and design of a new photoelectricity taper tester.
作者 张世林 王伟杰 高巍 王德辉
机构地区 哈尔滨工业大学 黑龙江国防区域计量站
出处 《计测技术》 2005年第6期40-42,共3页 Metrology & Measurement Technology
关键词 光电式 锥度 检查仪 photoeleetrieity taper tester
分类号 TG85 [金属学及工艺—公差测量技术]
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参考文献3

  • 1张善锺.精密仪器机构设计手册[M].北京:机械工业出版社,1993..
  • 2余志新.螺纹量规检验手册[M].北京:中国计量出版社,1990..
  • 3袁长良.机械制造工业装备设计手册[M].北京:中国计量出版社,1993..
计测技术
2005年 第6期

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