期刊文献+

数字晶体管及其测试 被引量:1

Digital Transistor and Its test
下载PDF
导出
摘要 文章介绍了常用数字晶体管的一般型号产品。重点介绍了数字晶体管中内置电阻的测试原 理,介绍了数字晶体管中内置电阻精确的计算机测试方法。 This article explained some nomal products of digital transistors which were used widely. Especially it introduces the test principle of the inside resistance and exact test method by the way of computer.
作者 吴振江
出处 《电子与封装》 2005年第12期23-26,共4页 Electronics & Packaging
关键词 数字晶体管 内置电阻 导通 截止 Digital transistor Inside resistance Open Cut-off
  • 相关文献

同被引文献2

  • 1刘光庭编.晶体管原理[M].南京:东南大学出版社,1991.152-126.
  • 2北京无线电仪器厂.QG24型高频小功率晶体三极管fT测试仪使用说明书[P].

引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部