摘要
介绍了如何使用基于粗糙集理论数据挖掘技术,对生产线的生产率和成品率进行快速的预测。在出现产量突然降低时,使用统计分析方法迅速找到使其降低的主要原因,然后就可对其采取有效的措施,从而满足高产量的要求。
The fast evaluation of productivity and yields of manufacturing line are made by rough sets data mining techniques. Timely predict the yield and quickly discover the root causes of low-yield are both very important. Data mining is used to meet the above demands.
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第1期23-25,共3页
Semiconductor Technology
基金
973项目(20002CB312202-03)
国家自然科学基金资助项目(60374005
60343002)
关键词
数据挖掘
半导体生产线
粗糙集
统计分析
data mining
semiconductor manufacturing line
rough set
statistical analysis
