元器件失效率预计模型的新框架

本文介绍一种元器件失效率模型的新框架。它是美国空军研制军事电子可靠性预计模型工作的一部分.这里没有包括的其它工作是关于组件和系统级的可靠性预计.已出版的数据表明现有的可靠性预计方法远远达不到要求的精度.现有方法的问题之一是未包含关键性因子.新框架基于这样的假设:本质上所有的失效都是由于内部缺陷、失效机理和应力相互作用引起的.这三种成分有助于形成作为应力施加时间、热循环次数和振动时间的函数的失效分布.Weibull分布已经被选做一般分布.为了提供元器件失效率函数,通过诸如缺陷数量、环境应力筛选的效果、日历时间的可靠性改进以及卖主的质量差别等关键因素来修改此分布.为了对框架提供说服力,应用已出版的数据和信息.本文不是一种纯理论的练习.对预计失效率特征的认识已经使作者正确地做出许多可靠性工程决策,特别是在环境应力筛选和可靠性验证试验方面.为了改进用现有手册预计可靠性的精度,在根据新框架建立的新的可靠性预计方法完善之前,不可避免的是模型框架适用的部分和关于识别关键因子的有用知识立刻得到应用,以改进使用现存手册的可靠性预计.这能够通过减少现有手册中的参数而用新的模型参数重新分配它们,并且加上忽略了的新参数来实现.