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一种新型P阱NMOS功率集成电路制作技术

A Novel Technique For P-Well NMOS Power IC's
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摘要 提出一种新型的P阱NMOS功率集成电路制作技术。理论分析表明,该技术可以较好地实现VDMOSFET与P阱NMOS电路的兼容集成。实验结果表明,利用该技术获得的器件结构具有良好的击穿特性。 A novel technique is proposed for p-well NMOS PIC fabrication.Theoretical analysis on the typical structure shows that VDMOS cells and p-well NMOS IC'S can be compatibly integrated into one chip. Experiment results demonstrate that p-n junctions obtained with the new technique have the same breakdown properties as the conventionally diffused ones.
出处 《微电子学》 CAS CSCD 1996年第3期195-197,共3页 Microelectronics
关键词 功率集成电路 VDMOS FET 隔离技术 Integrated circuit Power IC VDMOS FET
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