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专用集成电路入检测试系统

The special-purpose integrated circuit check test system
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摘要 专用集成电路入检测试系统是根据《专用集成电路入检测试系统研制要求》的设备用途,被测对象的主要技术指标,测试系统的组成、功能及主要技术指标制定。通过引入通用测试仪表组,运用GPIB总线控制等方法, 开发研制了集成电路入检设备,该设备可对混合集成电路模块在常温条件下的技术指标进行测试。 The special-purpose integrated circuit check test system is developed according to the equipment use, the main technical specifications of the tested objects, the compositions and functions of the test system, and its main technical specification in "The Requirements of Developing Special-purpose Integrated Circuit Test System". By introducing the general measuring appliance group, applying GPIB bus control and so on, this special integrated circuit check testing equipment is developed, which can test the technical specifications of hybrid integrated circuit module under the normal temperature.
作者 王磊 高长山
出处 《仪器仪表用户》 2006年第1期72-73,共2页 Instrumentation
关键词 专用集成电路 测试系统 通用测试仪表 GPIB 线控制 special-purpose integrated circuit, test system, general measuring appliance, GPIB bus Control
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二级参考文献12

  • 1孙铣 孙镪.数字集成电路和小型测试系统[A]..华峰测控文集[C].北京:北京华峰测控仪器公司,1999.13—25.
  • 2杨峰.微波技术与天线[M].成都:电子科技大学出版社,1993..
  • 3PapananosYE.通信用射频微电子电路[M].London:Kluwer Academic Publishers,2002..
  • 4IEEE 1149.1. IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture[S]. 2001.
  • 5IEEE 1149.4. IEEE Standard for a Mixed Signal Test Bus[S]. 1999.
  • 6IEEE 1149.5. IEEE Standard Module Test and Maintenance (MTM) Bus Protocol[S]. 1995.
  • 7IEEE P1500. IEEE Standard for Embedded Core Test[EB/OL]. http://grouper. ieee. org/groups/1500/.
  • 8NEXUS 5001 Forum[EB/OL]. http://www, ieee-isto. org/Nexus5001/about. html.
  • 9张萧文 陆兆熊.高频电子线路[M].北京:高等教育出版社,1992..
  • 10陈光(礻禹).可测性设计技术[M].北京:电子工业出版社,1997..

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