摘要
GCr15轴承零件正常淬火后根据不同要求一般在150～180℃温度范围回火2.5～3h,由于主客观因素,导致回火缺陷,主要表现为回火不足或回火过度,以致硬度偏高或偏低,前者,通常进行两次回火,再测硬度降,后者主要以硬度值是否在标准范围内来判定.传统方法具破坏性,对成品或不能破坏的产品的检测实为不妥.目前.轴承零件回火缺陷的无损检测尚无良法.回火缺陷是材料显微组织未达要求,而X射线衍射线形属结构敏感量.本实验拟探讨用X射线半高宽检测GCr15轴承零件的回火缺陷.
出处
《无损检测》
北大核心
1996年第6期166-167,共2页
Nondestructive Testing
