VLSI测试设备及其发展趋势
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2陈文声,林卓新.自动测试设备[J].电子测试,2007,0(3):87-89.
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3夏虹.与ATE用户共享的采访[J].国外电子测量技术,1996,15(4):15-17.
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4徐执模.GR9000电信测试系统ATE发展新纪元中的一例[J].微电子测试,1995,9(2):27-32.
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5自动测试设备(ATE)的新目标专用集成电路(ASIC)生产测试[J].国外电子测量技术,1994,13(2):20-20. 被引量：1
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6泰瑞达：以SoC测试技术徕卡战ATE市场[J].集成电路应用,2007,24(8):14-14.
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7Mike Kondrat,姜竞.系统集成使得I_(DDQ)测试实用化[J].微电子测试,1996,10(1):45-48. 被引量：1
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8Vicor公司中等功率微型模块[J].电子产品世界,2006,13(12X):41-42.
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9赵利平,林涛,周开伦.屏幕图像压缩中串复制位移参数的高效编码算法[J].计算机学报,2017,40(5):1218-1228. 被引量：8
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10李鹏程.基于张量紧凑表示的视频压缩算法[J].电子科技,2017,30(5):1-4. 被引量：4
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