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利用计数装置来记录迈克尔孙干涉仪干涉条纹的变化数 被引量:2

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摘要 利用计数装置来记录迈克尔孙干涉仪干涉条纹的变化数杨蓉,朱桂荣,屠传士(苏州大学物理系215006)精密测量长度常用的方法是将待测长度和激光波长作比较,通过干涉条纹计数求待测长度.利用迈克尔孙干涉仪得到干涉图,用感光元件把光学信号变成电信号并与其他电子...
机构地区 苏州大学物理系
出处 《物理实验》 1996年第1期43-43,共1页 Physics Experimentation
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