JB/T4730—2005《承压设备无损检测》答疑——射线检测部分(Ⅱ)
被引量:1
A Description of Standard JB/T 4730—2005 Nondestructive Testing of Pressure Equipments :Radiographic Testing(Ⅱ)
出处
《无损检测》
北大核心
2006年第2期86-88,共3页
Nondestructive Testing
同被引文献23
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1强天鹏,李伟.JB/T4730—2005《承压设备无损检测》答疑——射线检测部分(Ⅰ)[J].无损检测,2006,28(1):40-42. 被引量:2
-
2强天鹏,李伟.JB/T 4730—2005《承压设备无损检测》答疑——射线检测部分(Ⅲ)[J].无损检测,2006,28(3):158-161. 被引量:2
-
3梁曦东,戴建军.防护复合绝缘子芯棒脆断的方法[J].中国电机工程学报,2006,26(10):136-140. 被引量:35
-
4邢兆辉,高迎峰.JB/T4730—2005《承压设备无损检测》答疑——渗透检测部分(Ⅰ)[J].无损检测,2006,28(11):602-603. 被引量:1
-
5邢兆辉,高迎峰.JB/T4730—2005《承压设备无损检测》答疑——渗透检测部分(Ⅱ)[J].无损检测,2006,28(12):656-658. 被引量:1
-
6邢兆辉,高迎峰.JB/T4730—2005《承压设备无损检测》答疑——渗透检测部分(Ⅲ)[J].无损检测,2007,29(1):45-47. 被引量:2
-
7卢明,马晓久,阎东,李刚.复合绝缘子芯棒脆断原因分析[J].电瓷避雷器,2007(4):1-4. 被引量:27
-
8DL/T884-2004.火电厂金相检验与评定技术导则[S].[S].,..
-
9JB/T4730.2-2005承压设备无损检测第2部分:射线检测[s].
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10JB/T4730.2-2005.承压设备无损检测第5部分:渗透检测[S].
二级引证文献5
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1王家福,高岩峰,梁曦东.复合绝缘子芯棒在表面微电流作用下的水解[J].高电压技术,2014,40(3):843-852. 被引量:26
-
2谢瑞广,侯梅,张卓,陈新,吴大云,赵文浩.高电压等级绝缘拉杆用树脂配方研究[J].电瓷避雷器,2014(2):6-9. 被引量:8
-
3张秀丽,柯睿,杨跃光,刘春翔,杨红军.酸性湿沉降区域500kV输电线路金具缺陷机理分析及防范措施[J].高电压技术,2016,42(1):223-232. 被引量:16
-
4李超红.复合绝缘子芯棒断裂研究现状[J].绝缘材料,2018,51(6):7-11. 被引量:15
-
5夏彦卫,贾伯岩,刘杰,陈灿,王希林,徐驰,贾志东.复合绝缘子高温硅橡胶老化现象分析及评估方法研究[J].高压电器,2019,55(9):163-170. 被引量:27
-
1张平,许遵言,侯少华,袁榕.JB/T 4730—2005《承压设备无损检测》答疑——超声检测部分(Ⅰ)[J].无损检测,2006,28(4):209-211.
-
2张平,许遵言,侯少华,袁榕.JB/T4730—2005《承压设备无损检测》答疑——超声检测部分(Ⅱ)[J].无损检测,2006,28(5):272-275.
-
3周志伟,郭伟灿,徐立勋,强天鹏.JB/T 4730—2005《承压设备无损检测》答疑——磁粉检测部分(Ⅳ)[J].无损检测,2006,28(10):548-552. 被引量:2
-
4郁天放.底片黑度与缺陷深度的讨论[J].无损探伤,1990(6):42-44.
-
5张平,许遵言,侯少华,袁榕.JB/T4730—2005《承压设备无损检测》答疑——超声检测部分(Ⅲ)[J].无损检测,2006,28(6):320-323.
-
6姚阳明.用低能X射线透照厚壁容器[J].装备制造技术,2011(10):214-216.
-
7邢兆辉,高迎峰.JB/T4730—2005《承压设备无损检测》答疑——渗透检测部分(Ⅲ)[J].无损检测,2007,29(1):45-47. 被引量:2
-
8王寰明.小径管对接焊缝透照厚度的选择[J].电力建设,1989,10(3):7-10.
-
9沈功田,关卫和.JB/T 4730—2005《承压设备无损检测》答疑——涡流检测部分(Ⅱ)[J].无损检测,2007,29(3):159-160.
-
10张祥林.针对主题:精冲技术基础及模具失效分析浅析[J].锻造与冲压,2015,0(8):54-56.
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