期刊文献+

基于漏电断路器智能测试仪的设计 被引量:1

A Design of an Intelligent Testing Instrument Based on Leaking Current Breaker
下载PDF
导出
摘要 本文介绍了基于单片机控制的漏电断路器智能测试仪的设计方法,并给出了该测试仪的硬件电路和软件设计。 The paper introduces a designing method of an intelligent instrument based on single-chip controlled leaking current breaker, which is the critical part. And a hardware circuit and software design of this testing instrument is given.
作者 陈学珍
出处 《微计算机信息》 北大核心 2006年第02S期185-186,共2页 Control & Automation
关键词 断路器 脱扣器 智能测试仪 circuit breaker release intelligent instrument
  • 相关文献

参考文献1

  • 1何立民.MCS-51系列单片机应用系统设计[M].北京:航空航天大学出版社,1990..

共引文献240

同被引文献3

引证文献1

二级引证文献6

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部