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试验引起CVT损坏的原因及预防措施 被引量:11

Analysis of CVT Faults Caused by Test and Some Precaution Suggestions
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摘要 CVT因结构和工作原理的特殊性,常常会因试验方法不当而损坏。从CVT的基本原理入手,分析自激法测量CVT的介损和电容量以及现场局部放电试验损坏原因,并提出在试验中控制所加电压和注入电流的方法来避免CVT的损坏,供运行试验单位借鉴,对提高CVT的运行可靠性有重要的意义。
作者 倪学锋 林浩
机构地区 武汉高压研究所
出处 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第2期101-103,共3页 High Voltage Engineering
  • 相关文献

参考文献3

  • 1倪学锋,盛国钊,林浩.CVT使用中应注意的几个问题[J].高电压技术,2002,28(4):18-20. 被引量:17
  • 2DLA74.3-92.现场绝缘试验实施导则-介质损耗因数tgδ试验[S].北京:电力出版社,1992.
  • 3GB311.1-1997,高压输变电设备的绝缘配合[S].北京:中国标准出版社,1998.

共引文献16

同被引文献64

引证文献11

二级引证文献52

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