2006“泛华”测控系统技术应用研讨会在京举行
出处
《国外电子测量技术》
2006年第2期41-41,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
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2打造应用品牌 引领测控潮流——2006“泛华”测控系统技术应用研讨会在京举行[J].航天制造技术,2006(1):58-58.
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