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电化学光伏法测定n-和p-GaAs少子扩散长度

Minority Carrier Diffusion Length Measurements in n-and p-GaAs by Electrochemical Photovoltage Method
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摘要 从GaAs/电解液界面的电化学研究,提出了一种适合于测定化合物半导体少子扩散长度的光电化学新方法──电化学光伏法,用它成功地测定了n-和p-GaAs体单晶及外延层的少子扩散长度。 On the basis of electrochemical study on GaAs/electrotyte junction, a new photoelectrochemicalmethod, electrochemical photovoltage method, is reported for the determination of minoritycarrier diffusion length in compound semiconductors.The method has been successfully usedto determine the minority carrier diffusion length in n- and p-GaAs.
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1990年第8期639-641,共3页 半导体学报(英文版)
关键词 GAAS 测量 少子扩散 电化学光伏法 Electrochemical photovoltage method GaAs Minority carrier diffusion length
  • 相关文献

参考文献3

  • 1邵永富,半导体学报,1986年,7卷,441页
  • 2骆茂民,1985年砷化镓及有关化合物会议论文集摘要,1985年
  • 3陈朝,1981年砷化镓及有关化合物会议论文集,1981年

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