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基于PC机的智能型数字集成电路测试卡
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摘要
文章介绍了一种基于PC机的智能型数字集成电路测试卡,该卡能够测试数字集成芯片的逻辑功能,自动检测未知芯片的型号及对芯片进行老化试验等。本文介绍了该测试卡的工作原理、硬件结构和软件设计方法。
作者
娄建安
崔少辉
韩国栋
机构地区
军械工程学院
出处
《电子技术(上海)》
北大核心
1996年第5期9-11,共3页
Electronic Technology
关键词
数字集成电路
微机
测试
分类号
TN431.207 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子技术(上海)
1996年 第5期
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