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单片机控制的纱疵分级仪材料系数自动修正系统

Material coefficient automatic correction system of yarn defect classifier controlled by single chip microprocessor
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摘要 简述了纱线的材料系数对纱疵分级仪检测性能的影响;提出了采用单片微机控制的材料系数自动修正系统,并介绍了实施方案。 This arcticle briefly introduces the influence of the yam material coefficient on testing performance of the yarn defect classifier, put forward the idea to automatically correct yarn material co-efficient by using single chip microprocessor with its pratice also given.
作者 王小娟 李明
出处 《上海纺织科技》 北大核心 2006年第3期47-48,共2页 Shanghai Textile Science & Technology
关键词 纱疵 纱疵分级试验仪 纺纱 yarn faults classimat spinning
  • 相关文献

参考文献2

  • 1杨自厚.自动控制原理[M].北京:冶金工业出版社,1987.
  • 2李超青.单片机原理及接口技术[M].北京:北京航空航天大学出版社,1998.

共引文献6

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