期刊文献+

LCD Driver测试技术

LCD Driver IC Testing
下载PDF
导出
摘要 近年来随着彩屏手机、PDA等移动终端的普及,液晶电视等平板显示器件的推广,液晶显示器已经逐渐取代CRT成为主流的显示器件。LCDDriverIC作为液晶显示器的重要部件,需求量也日益增大。国内目前很多生产设计厂商已经开始相关产品的开发和生产。就LCDDriverIC的特点,介绍应用ATE(AutomaticTestEquipment)对其进行测试的方法。 With the population of PDA, LCD TV, LCD gradually takes the place of CRT in the color display area. As an important component of LCD, the demand of LCD Driver IC increases obviously. Now, Local IC design house and foundry have taken part in the design and manufacture of related products. This paper will introduce the test method of LCD Driver using ATE (Automatic Test Equipment).
作者 张明铭
出处 《电子工业专用设备》 2006年第2期39-42,共4页 Equipment for Electronic Products Manufacturing
关键词 自动化测试仪 伽马曲线 无源矩阵 有源矩阵 晶圆测试 最终测试 ATE (Automatic Test Equipment,RSDS) Gamma Referenc Passive Matrix Active Matrix CP test(Central Process) FT (Final Test)
  • 相关文献

参考文献6

二级参考文献1

  • 1(英)詹姆斯·威廉姆斯(JamesWillams)著,姚大志,赵雄峰.利奥塔[M]黑龙江人民出版社,2002.

共引文献13

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部