多重分形在电子散射中的应用

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摘要多重分形在电子散射中的应用吴自勤（中国科技大学基础物理中心，合肥２３００２６）入射电子在厚固体试样中的散射过程十分复杂，并且在实验上很难进行精细的测定，但ＭｏｎｔｅＣａｒｌｏ模拟可以得到入射电子在固体内的轨迹和级联电子（或二次电子）的轨迹。入射电子的...

作者吴自勤

机构地区中国科技大学基础物理中心

出处《电子显微学报》 CAS CSCD 1996年第6期527-527,共1页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society

关键词电子散射多重分形电子显微学入射电子

参考文献1

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电子显微学报

1996年第6期

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