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晶体中杂质-配体距离的谱学研究

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摘要评述了测定掺杂晶体中杂质－配体距离的几种谱学方法，重点介绍了其中的光谱学和磁共振方法．

作者郑文琛

机构地区四川联合大学材料科学系

出处《物理》 CAS 北大核心 1996年第3期184-188,共5页 Physics

关键词杂质-配体距离电子顺磁共振谱晶体

分类号 O766 [理学—晶体学]

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物理

1996年第3期

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