可成形二维和三维图像的透射电子显微镜

据美国俄勒冈州的FEI公司报道，一种Tecnai G2系列透射电子显微镜（TEM）可提供高分辨率的二维和三维图像，并具有高水平的显微镜自动和智能分析系统。材料科学和纳米技术要求显微镜具有原子级分辨率的基本功能，而这种新开发的Tecnai透射电子显微镜突破了1A的高分辨图像极限。