电子学中结构的完整性和可靠性——在无铅环境中提高性能
Structural Integrity and Reliability in Electronics——Enhancing Performance in a Lead-Free Environment
摘要
世界上最大的工业领域.电子学面临双重挑战:向有益于健康的焊锡合金过度和继续最小化时保持结构的完整性和可靠性。本书从材料、制造和设计的角度论述新型电子学结构的关键技术和应用前景。
出处
《国外科技新书评介》
2006年第4期3-3,共1页
Scientific & Technology Book Review
-
1张振清.提升技术支撑能力 决胜移动互联时代[J].世界电信,2008,21(4):14-15.
-
2褚玉琼,张满红,霍宗亮,刘明.Comparison between N_2 and O_2 anneals on the integrity of an Al_2O_3/Si_3N_4/SiO_2/Si memory gate stack[J].Chinese Physics B,2014,23(8):172-176.
-
3肖嘉辰,李萍萍.关于短信息的安全性和完整性的分析[J].信息技术,2009(8):187-188.
-
4科学家研究无铅焊锡如何改变电子部件[J].高科技与产业化,2010(6):18-18.
-
5张赛金.热点探测概率对热像仪参数的依整性[J].舰船光学,1993(1):34-36.
-
6龚永林.新产品与新技术(76)[J].印制电路信息,2013(8):71-71.
-
7安捷伦科技:FlexRay汽车测量软件[J].汽车制造业,2008(5):92-92.
-
8聂迎燕,顾红志,张勇,李阳.浅析传统电信运营商如何应对云计算与互联网的挑战[J].信息通信,2014,27(1):262-263.
-
9郭晓明,张济民.如何保持数据的完整性[J].现代电视技术,1999(C00):139-142.
-
10刘潇,李超,李芳,孟东林.基于复合左右手传输线的双频带通滤波器设计[J].微波学报,2012,28(1):53-56.