基于开放平台的测试图形生成系统

测试程序的初始开发费用随着集成电路器件的发展居高不下；另一方面，随着器件速度和产量需求的提高，常常需要在不同测试仪上测试同类器件，然而各测试仪厂家之间仍然缺乏共同的标准。