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HP4275A测试仪tgδ误差分析及其校正

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摘要本文根据HP4275A的工作原理、针对高频小损耗电容器测试中出现的损耗呈负值的现象,分析了误差产生的原因,并介绍了以自行研制的JO-3标准损耗及与计算机联机自动测试消除系统误差的原理和做法.

作者刘东方

机构地区电子部五所

出处《电子产品可靠性与环境试验》 1996年第5期61-66,共6页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关键词相位误差稳定性电容器测量测试仪

分类号 TM530.6 [电气工程—电器]

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电子产品可靠性与环境试验

1996年第5期

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