NI和TI合作采用虚拟仪器技术提高电源监测效率

美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）宣布与德州仪器（Texas Instruments，简称TI）和Spectrum Digital（SDI）共同合作开发全新的TIC55X电源优化DSP入门套件（DSK），该产品集成测试测量功能的DSP设计工具，结合NI基于USB的测量硬件，以及基于NILabVIEW软件的电源监测应用，为精确规划、分析、管理并优化实时功耗提供一整套电源评估及测量工具，使用户无需再分开购买DSP和价格不菲的电源监测硬件。