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嵌入式存储器的内建自测试算法及测试验证
被引量：
3
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摘要
嵌入式存储器的广泛应用使得内建自测试(BIST,Built-In Self-Test)在当前SoC设计中具有重要的作用,本文着重分析比较了几种BIST测试算法,并对嵌入式BIST的体系结构进行了剖析,最后深入研究了MARCH C-算法的实际应用,使用UMC.18SRAM和2PRAM仿真模型对存储器的BIST测试进行了验证,并成功将其应用于一款USB音视频芯片。
作者
林晓伟
郑学仁
刘汉华
闾晓晨
万艳
机构地区
广州华南理工大学微电子研究所
出处
《中国集成电路》
2006年第2期77-80,共4页
China lntegrated Circuit
关键词
嵌入式存储器
测试验证
测试算法
BIST
内建自测试
SOC设计
MARCH
体系结构
仿真模型
SRAM
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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