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光学表面粗糙度研究的进展与方向
被引量:
17
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摘要
在评述了研究表面粗糙度的重要性和紧迫性基础上,阐述了有关光学表面粗糙度概念的某些问题。在介绍国外几家公司出售的几种典型表面粗糙度测试仪器技术特性的同时,指明了国内外这一领域研究的发展方向。最后概略地介绍了关于这一课题我们将要开展的部分工作。
作者
徐德衍
林尊琪
机构地区
中科院上海光机所
出处
《光学仪器》
1996年第1期32-37,共6页
Optical Instruments
关键词
表面粗糙度
轮廓仪
微表面
分类号
TG84 [金属学及工艺—公差测量技术]
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