2006“泛华”测控系统技术应用研讨会在沪举行

2006年1月14日，由国内测控界著名厂商——北京中科泛华测控技术有限公司主办的2006“泛华”测控系统技术应用研讨会在上海太阳岛国际俱乐部胜利举行。此次研讨会以现代测控系统技术应用为核心，结合美国国家仪器有限公司（M）的虚拟仪器产品的热点应用与系统集成案例，由泛华、NI和其他应用方案提供商的专家向来自各行业的测控应用工程师们介绍了虚拟仪器系统的主流技术、发展方向、以及应用市场和应用案例，为测控行业创造了一个极好的沟通渠道和交流平台。