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高浓度离子注入砷隐埋层技术

Technique of As Buried-Layer Doped By High Density Ion Implant
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摘要 高浓度离子注入砷隐埋层技术与扩散锑埋层技术相比,具有表面浓度高,硅表面无合金点等优点。应用该技术成功地研制了具有国际先进水平的“DYL多元逻辑八位高速机频D/A转换器”集成电路。 A technique of As buried-layer doped by high density ion implant is presented in this paper. Compared with Sb burried-layer,this method have some advantage, such as high surface density,no alloy - dot etc. Used by this method,an international advanced integrated circuit-'DYL muitiple -unit 8 - bit high speed visual frequency D/A convertor is successfully fabricated.
出处 《微处理机》 1996年第2期22-24,共3页 Microprocessors
关键词 离子注入 隐埋层 双极型集成电路 集成电路 Arsenic Ion Implant Buried-Layer TTL IC
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参考文献1

  • 1[英]G·加特等,.半导体中离子注入[M]国防工业出版社,1982.

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