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HC/HCT系列电路测试程序设计 被引量:2

Test Program Design for HC/HCT Type of the Device
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摘要 目前,在整机系统上,HC/HCT类电路应用还十分广泛。严格测试电路的功能及交、直流参数十分必要。在多年测试实践基础上,文章提出了HC系列电路测试程序设计概要,对于一些关键测试技术亦作了较为详细地阐述。 At present HC/HCT type of the device is applied widely in the control system. It is very necessity that testing strictly the function,electrical characteristics and switching characteristics of these devices. For many years,based on testing practice the paper introduces the summary of HC/HCT type of the device testing program design. It also expound some key testing technique in greater detail.
出处 《微处理机》 1996年第2期25-29,共5页 Microprocessors
关键词 CMOS器件 电路测试 程序设计 HC/HCT device test function test DC test AC test test pattern
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同被引文献1

  • 11,Instruction Manual for Type DIC-8032 Test System.ANDO ELECTRIC.,LTD.1988

引证文献2

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