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香港科技园运用科利登先进的工具完善其诊断和特征分析能力

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摘要 来自美国加州苗必达市的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列科利登诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础上,增加了激光调试和先进的发射显微镜,进一步完善其特征分析产品系列。这些新技术可以为香港科技园提供一个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。
出处 《电子工业专用设备》 2006年第5期18-18,共1页 Equipment for Electronic Products Manufacturing
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