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先进光刻技术大步向前
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2
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摘要
正如半导体国际杂志上所说的那样,在今年的SPIE Microlithography会议上,光刻领域的技术专家们共聚一堂并发表了他们的最新研究成果。毫无疑问本次会议将会产生更多的新闻和技术热点,而近来公布的一些关于前沿浸没式光刻技术和极紫外光刻技术(EUV)的新闻以及研究成果已经受到了广泛的关注和极大的重视。
作者
Aaron Hand
机构地区
Semiconductor International
出处
《集成电路应用》
2006年第5期22-22,共1页
Application of IC
关键词
极紫外光刻技术
研究成果
SPIE
技术专家
技术热点
半导体
浸没式
会议
新闻
分类号
TN2-27 [电子电信—物理电子学]
TP305 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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集成电路应用
2006年 第5期
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