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IC测试原理-存储器和逻辑芯片的测试 被引量:4

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作者 许伟达
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第5期350-352,349,共4页 Semiconductor Technology
  • 相关文献

参考文献5

  • 1Mark Burns,Gordon W.Roberts An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement
  • 2Soft Test Inc.The Fundamentals of Memory Test Methodology The Fundamentals of Mixed-Signal Testing The Fundamentals of Digital Semiconductor Testing
  • 3Anthony K.Stevens Introduction to Component Testing
  • 4Agilent Application Notes 1313
  • 5Agilent Application Notes 1314

同被引文献14

引证文献4

二级引证文献6

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