陶瓷纤维增强铝基复合材料断口的SAM和XPS分析

复合材料是通过界面把增强体和基体结合起来的,界面的化学组成和状态,界面层厚度对复合材料性能有重要影响。现代表面分析技术为界面研究提供了有力工具。新型的扫描俄歇探针(SAM)入射电子束的最小束斑可达35nm。