摘要
半导体化合物Hg_(1-x)Cd_xTe具有大的光学吸收系数,适于制波长为8~14μm的红外探测器。由于禁带宽度随化合物的组分而变化,在Hg_(1-x)Cd_xTe中x值的变化对红外探测器的性能有根大影响。本文用配有TN-5500能谱仪的JSM-840扫描电镜测定此化合物中不同试样的x分布值。用从实验中得到的镉的重量百分比计算出每种试样25个点的x值、x的平均值及均方差,测量误差为4.5%,x平均值的计算结果与用X荧光方法测量的x值一致。
出处
《稀有金属》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1996年第2期149-152,共4页
Chinese Journal of Rare Metals