期刊文献+

VLSIC的可靠性测试探讨

A Discussion on VLSIC Dependability Testing
下载PDF
导出
摘要 针对超大规模集成电路(VLSIC)的可靠性测试问题进行了理论分析,叙述了VLSIC可靠性测试技术及特点,并对VLSIC可靠性测试的设计方法与改善进行了归纳总结。 This paper analyzes the problems on the dependability testing of VLSIC ( Very Large Scale Integrated Circuit), and sums up the designing methods and the techniques of improving it. Based on this, it has important effects on VLSIC dependability testing improvement.
作者 李青龙
出处 《常州工学院学报》 2006年第2期16-17,26,共3页 Journal of Changzhou Institute of Technology
关键词 VLSIC 可靠性 测试 VLSIC dependability testing
  • 相关文献

参考文献2

  • 1[1]李伟华.VLSI设计基础[M].2版.北京:电子工业出版社,2004.
  • 2[2]沈绪榜,杜敏.VLSI设计导论[M].3版.西安:西安电子科技大学出版社,2005.

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部