期刊文献+

安捷伦推出智能VTEP进一步提高无矢量测试技术性能

下载PDF
导出
摘要 安捷伦科技日前宣布,推出Agilent Medalisti VTEP(intelligent Vectorless Test Extended Performance,智能无欠置测试技术),减少了对引线框几何形状的依赖程度,针对当前极具挑战的印制电路板组装(PCBA)中遇到的各种器件封装,和传统技术相比改善了测量可靠性。为制造商提供了极佳的工具。
出处 《电子与封装》 2006年第5期43-43,共1页 Electronics & Packaging
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部