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热处理时间对NiFe薄膜性能的影响 被引量:4

Effect of Annealing Time on the Properties of NiFe Thin Films
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摘要 用磁控溅射法制备了厚度20~200nm的NiFe合金薄膜。研究了热处理时间(及温度)对NiFe薄膜的电阻(电阻率)、各向异性磁电阻比和软磁性能的影响。在一定温度下,经适当时间的热处理可以减小NiFe薄膜的电阻、增大其各向异性磁电阻比,从而制备出性能较好(各向异性磁电阻比较大、温度稳定性较好)的薄膜磁性材料。 A series of annealing temperatures and times which affect the characters of NiFe films were investigated. Samples were prepared by means of DC sputtering. Magnetoresistance is measured with four-probe. The dependance of anisotropic magnetoresistance(AMR) on annealing time,as well as temperature ,is determined from experimental data. Annealing can improve the completeness of crystalline structure,so that increases magnetoresistivity. Anisotropic magnetore-sistivity ratio of 3. 5% is obtained.
出处 《材料导报》 EI CAS CSCD 1996年第5期27-31,共5页 Materials Reports
关键词 薄膜 镍铁薄膜 磁致电阻率 热处理 镍基合金 NiFe film,magnetoresistivity(MR) ,annealing
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献3

  • 1过璧君,磁记录材料与应用,1991年
  • 2郭贻诚,铁磁学,1982年
  • 3Chang R P H,Mater Res,1991年,11期,63页

共引文献9

同被引文献26

引证文献4

二级引证文献10

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