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第43届IECEE-CTL年会

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摘要 2006年4月3日至4月6日,由中国质量认证中心(CQC)和 CB 实验室(CBTL)组成的中国代表团一行6人参加了在南非约翰内斯堡召开的第43届 IECEE-CTL 年会。检测实验室委员会 (CTL)作为 IECEE-CB 体系的技术机构,通过多个专家工作组(ETF)解决 CB 体系运行过程中的技术问题,增进各国 NCB 及 CBTL 之间的技术交流和相互信任,是 CB 体系的基石。本次年会由南非成员机构南非标准局 SABS 承办,共有来自30 多个国家和地区的80余名代表参加。会议主要就上届会议的跟进措施,认证管理委员会(CMC)相关决议跟踪措施,能力验证计划 (proficiency testing program 简称:PTP)等议题进行了讨论,同时11个专家工作组和4个工作组还分别做了工作汇报。
作者 陈伟 吴杨
出处 《家电科技》 2006年第5期10-11,共2页 Journal of Appliance Science & Technology
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