摘要
在采用一种新集成电路的过程中,为其开发测试程序是需要克服的主要障碍之一。为了进入市场,这些障碍就成为测试工程师肩上的一个沉重负担。而在最近以来,芯片设计得越来越复杂又更加重了这种负担。无疑,这就使得寻找新的测试程序生成方法变得十分必要。 容易看出,改进的余地是存在的。因为在测试程序的开发中,费时最多的部分之一是设计和调试数字信号处理(DSP)算法,这些算法将用于计算各种各样信号的测试结果。
出处
《国外电子测量技术》
1996年第1期33-34,共2页
Foreign Electronic Measurement Technology