用逻辑分析仪诊断逻辑电路的故障

1.引言 当前,电子计算机技术发展迅猛,计算机中的逻辑电路布局日趋高集成化,对于多通道集成电路的性能测试及相关性时序关系的测试分析,若采用一般测试仪器(如:万用表,示波器等)都已不能胜任。这给予电子计算机的开发使用、调试、故障维修又提出了新的要求,即如何提高单位时间内的故障测试诊断效率。