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用逻辑分析仪诊断逻辑电路的故障
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摘要
1.引言 当前,电子计算机技术发展迅猛,计算机中的逻辑电路布局日趋高集成化,对于多通道集成电路的性能测试及相关性时序关系的测试分析,若采用一般测试仪器(如:万用表,示波器等)都已不能胜任。这给予电子计算机的开发使用、调试、故障维修又提出了新的要求,即如何提高单位时间内的故障测试诊断效率。
作者
管龙法
周永利
席春红
机构地区
济南市
出处
《现代仪器使用与维修》
1996年第1期20-24,共5页
Modern Instruments
关键词
逻辑分析仪
逻辑电路
故障诊断
集成电路
分类号
TN431.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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现代仪器使用与维修
1996年 第1期
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