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磁控溅射薄膜的厚度均匀性理论研究 被引量:13

On the Thickness Uniformity of Films Deposited by Magnetron Sputtering
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摘要 建立了一个磁控溅射模型,在几种特殊情况下,给出了计算机模拟的薄膜厚度三维分布和二维分布,提出了制备大面积薄膜的条件.结果表明:计算机模拟的结果与实验结果和有关文献的结果一致. A magnetron sputtering model is developed by taking the distribution of magnetron magnetic field into consideration.In a few special cases,the relative thickness distribution in three dimensions and two dimensions of the deposited films are given by mathematical integration.The methods of depositing the films of a large area are proposed.It is shown that the results of computer simulation are in agreement with those of experiments and published literature.
出处 《华中理工大学学报》 CSCD 北大核心 1996年第1期89-92,共4页 Journal of Huazhong University of Science and Technology
关键词 磁控溅射 薄膜厚度 磁场 均匀性 s: magnetron sputtering film thickness magnetic field model
  • 相关文献

参考文献4

  • 1范正修,薛松生,何朝玲.磁控溅射薄膜的厚度分布[J].应用科学学报,1993,11(2):136-140. 被引量:13
  • 2张苏淮,武汉大学学报,1992年,3期,43页
  • 3谭深,真空科学与技术,1985年,5卷,2期,39页
  • 4应根裕,真空科学与技术,1985年,5卷,5期,30页

二级参考文献1

  • 1范正修,光学技术,1983年,1期,11页

共引文献12

同被引文献71

引证文献13

二级引证文献85

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