PMN、PLN、PLMN体系中极化过程对显微结构影响的分析

采用Ｘ射线衍射技术和数学方法分析了ＰＬＮ、ＰＭＮ、ＰＬＭＮ等三、四元体系压电陶瓷的畴转向机理。计算了９０°畴转向在极化过程所有畴转向中所占的比例及畴尺寸和晶格畸变。结果表明：极化过程中９０°畴转向起了决定性作用，占畴转向的大部分。