摘要
为了进行光电二极管的弱光光敏特性的测量和标定,改进现有测试仪只能适应日光环境且电路板体积大、线路连接复杂的缺欠,开发了一种光电二级管弱光光敏特性测量仪,并提出进一步改进的方法.
To meet the need of using photoelectric instrument to measure the photosensitive properties of the weak light of photodiode, because the current equipment is used in the daylight and the circuit is big and complicated, the instrument to measure properties of weak light of photodiode is developed, and the improved method is given.
出处
《天津工业大学学报》
CAS
2006年第3期64-66,共3页
Journal of Tiangong University
基金
天津大学光电信息技术教育部重点实验室资助项目(OL-051)
关键词
光电二极管
光敏特性
测试电路
photodiode photosensitive measurement electric circuit