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银河飞腾DSP芯片总剂量辐照试验研究 被引量:2

Total Ionizing Dose Effects Test of Domastic High Quality Device YHFT-DSP
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摘要 利用60Co产生γ射线辐射场对国产银河飞腾DSP的总剂量效应进行了初步试验。建立了一个辐射环境下银河飞腾DSP芯片功能检测的计算机测量平台,对不同剂量率(2~10rad(Si)/s)、不同积累剂量情况下,银河飞腾DSP的存储器、数据总线等进行了测试。试验结果表明,银河飞腾DSP在总剂量115.2krad(Si)情况下存储器读取和CPU内核运行功能正常。 A primary test was done about the total ionizing dose effects on the YHFT-DSP/700 chip with the source of ^60Co Y -ray, which was based on a computer-aided test platform for YHFT digital signal processor. The experiments were carried out under different dose rates (2-10 rad(Si)/s) and different total dose to test the memory, data bus and central process unit. YHFT-DSP/700 can run properly even the total dose comes up to 115.2 k rad(Si).
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第7期493-494,505,共3页 Semiconductor Technology
基金 国防科工委"十一五"民用航天技术预研项目(C5220063103)
关键词 银河飞腾DSP ^60CO Y射线 辐射总剂量 YHFT-DSP ^60Co Y-ray radiation total dose
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同被引文献7

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